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最新快充测试系统方案

发布时间:2018-11-24

1产品简介

快充智能测试系统,是在原来基础增加行业快充电源的QC2.0、QC3.0、PD、MTK一体式全面测试。这套测量系统不仅可以高效、快捷的帮助用户完成测试功能,同时也为用户提高产品品质提供了有力保障。安拓森作为国内异军突起的测试测量厂商,将始终专注于测量,坚持自主创新,为用户提供更多创新的行业解决方案,真正体现客户价值。该系统是一个主要用于充电器或直流电源进行自动化测试的系统,具有自动化程度高、操作简单、界面友好、性能稳定、测试准确、速度较快等特点。

2测试项目

一、输入端特性测试:

1、输入电压测试(Input voltage test);

2、输入有效值电流测试(Input RMS current test);

3、输入功率测试(Input power test);

4、输入功率因数测试(Input power factor test);

二、输出端特性测试:

1、输出直流电压测试(Output DC voltage test);

2、输出直流电流测试(Output DC current test);

3、输出直流功率测试(Output DC power test);

4、电压纹波测试(Peak-peak noise test);

5、效率测试(Efficiency test);

6、平均效率测试(CEC test);

三、稳定度测试:

1、输入电源调整率测试(Input voltage regulation test);

2、负载调整率测试(Load regulation test);

3、综合调整率测试(Combine regulation test);

四、保护功能测试:

1、短路保护测试(Short circuit test);

2、过电流保护测试(Over current protection test);

五、特殊功能:

1、快充QC2.0/3.0/4.0,MTK,PD测试

2、D+、D-测试;

3、PASS、FAIL外接指示功能;

4、条形码生成或读取(Barcode scan)。

5、MES专属定制功能

3快充测试原理

QC2.0主要是通过D+D-输入对应电压,线长阻抗大的时候,会导致升电压失败。为此自主开发QC2.0测试快充协议板,内置阻抗匹配电路,通道全隔离电路,可解决此异常的发生。

QC3.0主要是通过D+D-脉冲方式,一次200MV递增、递减,到所需测试电压,控制时环境干扰过大会导致递增、递减错误,还与行业中各个IC产商的微区别也会导致测试异常。

为此自主开发QC3.0测试快充协议板,内置抗干扰电路与通道隔离电路,兼容行业所有QC3.0的IC厂商协议,全面解决测试异常发生。

4PD测试原理

PD快充主要是通过CC信号脚,触发切换输出电压,目前行业中各个IC产商的微区别会有测试方式区别,如OCP,短路后的复位电压不固定,激活PD协议时电压不同等。

为此经多次实验分析确认,研制PD全兼容测试快充协议板,内置抗干扰电路与通道隔离电路,兼容行业所有QC3.0,QC2.0的IC厂商协议,全面解决测试异常发生。

5MTK协议

安拓森MTK标配赠送,兼容行业所有MTK协议且稳定。

6D+D-测试

D+D-可快速检测出不良品,正极到D-,D-到D+,D+到负极各点之间的电路。

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